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L'Institut Paul Scherrer en Argovie bat le record mondial de précision grâce aux rayons X

L'Institut Paul Scherrer (PSI) à Villigen (AG) a établi nouveau un record mondial de précision avec des rayons X. [Institut Paul Scherrer (PSI) - Mahir Dzambegovic]
Record mondial de précision avec des rayons X à l'Institut Paul Scherrer (PSI) / Le Journal horaire / 24 sec. / le 2 août 2024
L'Institut Paul Scherrer (PSI) à Villigen (AG) a établi nouveau un record mondial de précision avec des rayons X. Les chercheurs ont scruté l'intérieur d'une puce informatique et ont obtenu une image avec une résolution de 4 nanomètres.

C'est une première et un nouveau record du monde, a indiqué vendredi le PSI, qui a collaboré avec l'EPFL, l'EPFZ et l'University of Southern California pour réaliser cet exploit. Les images tridimensionnelles d'une aussi haute résolution permettent de faire des progrès aussi bien dans les technologies de l'information que dans les sciences de la vie.

Pour obtenir l'image d'une résolution de 4 nanomètres (4 millionièmes de millimètre), les chercheurs ont eu recours à la ptychographie. Il s'agit d'un procédé informatique qui réunit beaucoup d'images isolées en une seule prise de vue à haute résolution, explique le PSI.

Vue de l'intérieur d'une puce informatique. La ptychographie a permis aux chercheurs de cartographier la structure tridimensionnelle de cette puce. L'image montre les différentes couches qui composent la puce. Les structures les plus grossières sont visibles en haut. La puce devient de plus en plus complexe au fur et à mesure que l'on descend dans les couches. [Institut Paul Scherrer (PSI) - Tomas Aidukas]
Vue de l'intérieur d'une puce informatique. La ptychographie a permis aux chercheurs de cartographier la structure tridimensionnelle de cette puce. L'image montre les différentes couches qui composent la puce. Les structures les plus grossières sont visibles en haut. La puce devient de plus en plus complexe au fur et à mesure que l'on descend dans les couches. [Institut Paul Scherrer (PSI) - Tomas Aidukas]

Grâce à un raccourcissement du temps d'exposition et à l'optimisation d'un algorithme, ils ont réussi à battre leur propre record du monde de 2017 (15 nanomètres). Pour parvenir à ce résultat, ils ont utilisé des rayons X et la Source de lumière Suisse (SLS) du PSI. Le résultat de leurs travaux a été publié dans la revue spécialisée Nature.

ats/iar

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